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專利分析的內(nèi)容是什么

主要有原文分析、簡單統(tǒng)計分析、以簡單統(tǒng)計為基礎(chǔ)的對比分析、動態(tài)矢量分析等;通過檢索競爭對手企業(yè)的專利說明書,對其進行仔細閱讀、認真分析來掌握競爭對手新產(chǎn)品新技術(shù)的開發(fā)特點,包括尋找空隙、技術(shù)改進、技術(shù)綜合和專利技術(shù)原理;

按照專利發(fā)明人、專利申請人、專利分類號和專利文獻的數(shù)量分別進行統(tǒng)計分析;對相關(guān)情況統(tǒng)計分析,了解各國科技進步的現(xiàn)狀、技術(shù)研究興趣或熱點的轉(zhuǎn)移情況、在一定程度上摸清當(dāng)前技術(shù)發(fā)明人的注意力以及該項技術(shù)領(lǐng)域發(fā)展的去向、觀察在某一技術(shù)領(lǐng)域的競爭情況,甚至可以判斷出最活躍的領(lǐng)域;

通過對專利統(tǒng)計中專利分類號、專利權(quán)人、專利申請日(授權(quán)公布日) 和專利申請國進行組配統(tǒng)計獲得各種統(tǒng)計信息,然后對這些統(tǒng)計信息進行分析;

從技術(shù)領(lǐng)域、產(chǎn)品的某些功能等角度,反映不同年度和不同企業(yè)申請專利的技術(shù)動態(tài)和特性,從而比較企業(yè)的技術(shù)開發(fā)趨勢和方向。主要形式有:企業(yè)在不同年度、不同技術(shù)領(lǐng)域中技術(shù)開發(fā)比較,不同科研選題的比較、不同企業(yè)不同科研選題比較,各種因素之間的回歸分析 ;專利文獻除反映科學(xué)技術(shù)的量變關(guān)系外,還隱含著科技發(fā)展的方向，對科學(xué)發(fā)展動向加以評價和預(yù)測;

對專利文獻引用參考文獻的現(xiàn)象進行分析研究,揭示其數(shù)量特征和內(nèi)存規(guī)律,進行技術(shù)發(fā)展趨勢的評價;根據(jù)專利文獻在國際發(fā)明分類表中的分散性,在某專題文獻資料的地理分布、研究內(nèi)容等進行排列組合和分析研究,從中預(yù)測世界上創(chuàng)造發(fā)明活動最活躍的國家以及側(cè)重研究的領(lǐng)域等。

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